Автор работы: Пользователь скрыл имя, 06 Октября 2013 в 17:31, дипломная работа
Основной объем монокристаллического кремния (80-90%) потребляемого электронной промышленностью, выращивается по методу Чохральского. Фактически весь кремний, используемый для производства интегральных схем, производиться этим методом.
Кристаллы, выращенные этим методом обычно не содержат краевых дислокаций, но могут включать небольшие дислокационные петли, образующиеся при конденсации избыточных точечных дефектов. Кристаллический рост заключается в фазовом переходе из жидкого состояния в твердую фазу.
Применительно к кремнию этот процесс может быть охарактеризован как однокомпонентная ростовая система жидкость-твердое тело.
Введение 4
1.Физические и химические свойства кремния 7
2.Методы выращивания монокристаллов из расплава 15
2.1. Метод Бриджмена 15
2.2. Метод Стокбаргера 17
2.3. Метод Чохральского 18
2.4. Метод Степанова 19
2.5. Метод Вернейля 20
2.6. Метод бестигельной зонной плавки 21
2.7. Метод Киропулоса 23
3. Методы выращивания монокристаллов из раствора 24
3.1. Высокотемпературный метод 24
3.2. Низкотемпературный метод 25
3.3. Гидротермальный метод 26
4. Методы выращивания из газообразного вещества 27
4.1 Метод кристаллизации 27
5. Характеристики метода 28
6. Параметры, влияющие на рост монокристаллического кремния 31
7. Легирование 32
8. Оборудование для роста кристаллов методом Чохральского 34
9. Технология процесса 40
Выводы 46
Список литературы 47
Министерство образования и науки Российской Федерации
Федеральное
государственное бюджетное
высшего профессионального образования
Ивановский
Государственный Химико-
Факультет Неорганической Химии и Технологии
Кафедра ТП и МЭТ
КВАЛИФИКАЦИОННАЯ РАБОТА БАКАЛАВРА
Метод Чохральского в технологии выращивания монокристаллов кремния
Студент ______________________________
Руководитель ______________________________
Зав. кафедрой ______________________________
Иваново 2013
Оглавление
Аннотация 3
Введение 4
1.Физические и химические свойства кремния 7
2.Методы выращивания монокристаллов из расплава 15
2.1. Метод Бриджмена 15
2.2. Метод Стокбаргера 17
2.3. Метод Чохральского 18
2.4. Метод Степанова 19
2.5. Метод Вернейля 20
2.6. Метод бестигельной зонной плавки 21
2.7. Метод Киропулоса 23
3. Методы выращивания монокристаллов из раствора 24
3.1. Высокотемпературный метод 24
3.2. Низкотемпературный метод 25
3.3. Гидротермальный метод 26
4. Методы выращивания из газообразного вещества 27
4.1 Метод кристаллизации 27
5. Характеристики метода 28
6. Параметры, влияющие на рост монокристаллического кремния 31
7. Легирование 32
8. Оборудование для роста кристаллов методом Чохральского 34
9. Технология процесса 40
Выводы 46
Список литературы 47
В данной работе описаны методы выращивания монокристаллов из расплава, из раствора и из газообразного вещества. Также подробно разобран метод Чохральского в технологии получения монокристаллов кремния.
Квалификационная работа бакалавра изложена на 47 страницах, содержит в себе 19 рисунков, 6 формул и 7 литературных источников.
Метод Чохральского — метод выращивания монокристаллов путём вытягивания их вверх от свободной поверхности большого объёма расплава с инициацией начала кристаллизации путём приведения затравочного кристалла (или нескольких кристаллов) заданной структуры и кристаллографической ориентации в контакт со свободной поверхностью расплава.
Метод был разработан польским химиком Яном Чохральским и первоначально использовался им для измерения степени кристаллизации металлов (олово, цинк, свинец).
По некоторым сведениям, Чохральский открыл свой знаменитый метод в 1916 году, когда случайно уронил свою ручку в тигель с расплавленным оловом. Вытягивая ручку из тигля, он обнаружил, что вслед за металлическим пером тянется тонкая нить застывшего олова. Заменив перо ручки микроскопическим кусочком металла, Чохральский убедился, что образующаяся таким образом металлическая нить имеет монокристаллическую структуру. В экспериментах, проведённых Чохральским, были получены монокристаллы размером около одного миллиметра в диаметре и до 150 см длиной.
Основной объем монокристаллического кремния (80-90%) потребляемого электронной промышленностью, выращивается по методу Чохральского. Фактически весь кремний, используемый для производства интегральных схем, производиться этим методом.
Кристаллы, выращенные этим методом обычно не содержат краевых дислокаций, но могут включать небольшие дислокационные петли, образующиеся при конденсации избыточных точечных дефектов. Кристаллический рост заключается в фазовом переходе из жидкого состояния в твердую фазу.
Применительно
к кремнию этот процесс может
быть охарактеризован как
Рис. 1. Ростова система жидкость - твердое тело
Рост кристаллов по методу Чохральского заключается в затвердевании атомов жидкой фазы на границе раздела жидкость - твердая фаза. Скорость роста определяется числом мест на поверхности растущего кристалла для присоединения атомов, поступающих из жидкой фазы, и особенностями теплопереноса на границе раздела фаз. Скорость вытягивания оказывает влияние на форму границы раздела фаз между растущим кристаллом и расплавом, которая является функцией радиального градиента температуры и условий охлаждения боковой поверхности растущего кристалла.
Монокристалл - это отдельный однородный кристалл, имеющий непрерывную кристаллическую решётку и характеризующийся анизотропией свойств. Внешняя форма монокристаллов обусловлена его атомнокристаллической структурой и условиями кристаллизации.
Часто монокристалл
приобретает хорошо выраженную естественную
огранку, в неравновесных условиях
кристаллизации огранка проявляется
слабо. Примерами огранённых природных
монокристаллов могут служить монокристаллы
кварца, каменной соли, исландского
шпата, алмаза, топаза. От монокристаллов
отличают поликристаллы и
Монокристаллы
способны менять свои свойства под
влиянием внешних воздействий (света,
механических напряжений, электрических
и магнитного полей, радиации, температуры,
давления). Поэтому изделия и элементы,
изготовленные из монокристаллов, применяются
в качестве различных преобразователей
в радиоэлектронике, квантовой электронике,
акустике, вычислительной технике и
др. Первоначально в технике
Поэтому появилась необходимость искусственного выращивания монокристаллы.
Получение кремния
Свободный кремний можно получить прокаливанием с магнием мелкого белого песка, который представляет собой диоксид кремния [1]:
SiO2+2Mg=2MgO+Si
При этом образуется бурый порошок аморфного кремния.
В промышленности кремний технической чистоты получают, восстанавливая расплав SiO2 коксом при температуре около 1800 °C в руднотермических печах шахтного типа. Чистота полученного таким образом кремния может достигать 99,9 % (основные примеси — углерод, металлы).
Возможна дальнейшая очистка кремния от примесей.
Содержание примесей в доочищенном кремнии может быть снижено до 10−8—10−6 % по массе.
Физические свойства кремния
Рис. 2. Кристаллическая структура кремния
Кремний является основным материалом полупроводниковой техники. Не встречаясь в природе в свободном состоянии, кремний в земной коре является самым распространенным элементом после кислорода - его содержание достигает 28% [1].
Несмотря
на большую распространенность кремния,
монокристаллический кремний
Монокристаллический кремний производится путём перекристаллизации поликристаллического кремния.
Кристаллическая решётка кремния кубическая гранецентрированная типа алмаза, параметр а = 0,54307 нм (при высоких давлениях получены и другие полиморфные модификации кремния), но из-за большей длины связи между атомами Si—Si по сравнению с длиной связи С—С твёрдость кремния значительно меньше, чем алмаза. Кремний хрупок, только при нагревании выше 800 °C он становится пластичным веществом. Интересно, что кремний прозрачен для инфракрасного излучения начиная с длины волны 1,1 мкм. Собственная концентрация носителей заряда — 5,81·1015 м−3 (для температуры 300 K).
Электрофизические свойства кремния
Элементарный кремний в монокристаллической форме является непрямозонным полупроводником. Ширина запрещённой зоны при комнатной температуре составляет 1,12 эВ, а при Т = 0 К составляет 1,21 эВ. Концентрация собственных носителей заряда в кремнии при нормальных условиях составляет порядка 1,5·1010 см−3.
На электрофизические
свойства кристаллического кремния
большое влияние оказывают
При создании
электронных приборов на основе кремния
задействуется преимущественно
приповерхностный слой материала (до десятков
микрон), поэтому качество поверхности
кристалла может оказывать
Диэлектрическая проницаемость: 12
Подвижность электронов: 1200—1450 см²/(В·c).
Подвижность дырок: 500 см²/(В·c).
Ширина запрещённой зоны 1,205-2,84·10−4·T
Продолжительность жизни электрона: 5 нс — 10 мс
Длина свободного пробега электрона: порядка 0,1 см
Длина свободного пробега дырки: порядка 0,02 — 0,06 см
Все значения приведены для нормальных условий [1].
Химические свойства кремния
Подобно атомам углерода, для атомов кремния является характерным состояние sp3-гибридизации орбиталей. В связи с гибридизацией чистый кристаллический кремний образует алмазоподобную решётку, в которой кремний четырёхвалентен. В соединениях кремний обычно также проявляет себя как четырёхвалентный элемент со степенью окисления +4 или −4. Встречаются двухвалентные соединения кремния, например, оксид кремния (II) — SiO.
При нормальных условиях кремний химически малоактивен и активно реагирует только с газообразным фтором, при этом образуется летучий тетрафторид кремния SiF4. Такая «неактивность» кремния связана с пассивацией поверхности наноразмерным слоем диоксида кремния, немедленно образующегося в присутствии кислорода, воздуха или воды (водяных паров).
При нагревании до температуры свыше 400—500 °C кремний реагирует с кислородом с образованием диоксида SiO2, процесс сопровождается увеличением толщины слоя диоксида на поверхности, скорость процесса окисления лимитируется диффузией атомарного кислорода сквозь плёнку диоксида.
При нагревании до температуры свыше 400—500 °C кремний реагирует с хлором, бромом и иодом — с образованием соответствующих легко летучих тетрагалогенидов SiHal4 и, возможно, галогенидов более сложного состава.
С водородом кремний непосредственно не реагирует, соединения кремния с водородом — силаны с общей формулой SinH2n+2 — получают косвенным путем. Моносилан SiH4 (его часто называют просто силаном) выделяется при взаимодействии силицидов металлов с растворами кислот, например, образующийся в этой реакции силан SiH4 содержит примесь и других силанов, в частности, дисилана Si2H6 и трисилана Si3H8, в которых имеется цепочка из атомов кремния, связанных между собой одинарными связями (—Si—Si—Si—).
С азотом кремний при температуре около 1000 °C образует нитрид Si3N4, с бором — термически и химически стойкие бориды SiB3, SiB6 и SiB12.
При температурах свыше 1000 °C можно получить соединение кремния и его ближайшего аналога по таблице Менделеева — углерода — карбид кремния SiC (карборунд), который характеризуется высокой твёрдостью и низкой химической активностью. Карборунд широко используется как абразивный материал. При этом, что интересно, расплав кремния (1415 °C) может длительное время контактировать с углеродом в виде крупных кусков плотноспечённого мелкозернистого графита изостатического прессования, практически не растворяя и никак не взаимодействуя с последним.
Информация о работе Метод Чохральского в технологии выращивания монокристаллов кремния