Автор работы: Пользователь скрыл имя, 24 Декабря 2013 в 23:01, курсовая работа
Увидеть трехмерную структуру микромира удалось только тогда, когда на смену оптическому лучу пришла тончайшая игла. Вначале принцип механического сканирования с помощью микрозонда нашел применение в сканирующей туннельной микроскопии, а затем на этой основе был разработан более универсальный метод атомно-силовой микроскопии.
Оба метода активно используются в исследовании структуры поверхности материала.
1.Введение………………………………………………………………….……3
2.Электронная микроскопия ………………………………………….……..4
Принцип действия электронных микроскопов…………………..……..4
Растровая электронная микроскопия…………………………….……7
3.Атомно – силовая микроскопия……………………………….......….…..13
Атомно-силовой микроскоп……………………………………….……13
Способы сканирования……………………………………………….…15
Преимущества и недостатки сканирующей зондовой микроскопии по отношению к другим методам диагностики поверхности……..……..16
Режимы сканирования……………………………………………..……19
Применение АСМ…………………………………………………..……21
4.Литература………………………………………………………………..….24