Сканирующая туннельная микроскопия

Автор работы: Пользователь скрыл имя, 27 Октября 2014 в 10:40, реферат

Краткое описание

В 1981 году Герхард Бинниг и ХайнрихРёрер из исследовательской лаборатории IBM в Цюрихе изобрели новый тип микроскопов, названный ими сканирующий туннельный микроскоп (СТМ). Став первым устройством, позволяющим получать реальные изображения поверхностей с атомарным разрешением, СТМ стал также основой для создания нового направления микроскопических исследований — сканирующей зондовой микроскопии

Скачать полностью (738.17 Кб) Сколько стоит заказать работу?
Прикрепленные файлы: 1 файл

Р2. зондовые методы создания наноструктур.docx

— 836.56 Кб (Скачать документ)

 

 

Литература

  1. www.nanoscopy.net
  2. Бахтизин Р.З. Сканирующая туннельная микроскопия — новый метод изучения поверх-ности твердых тел // Соросовский образовательный журнал. — 2000. — № 11. — С. 83-89.
  3. Усанов Д.А., Яфаров Р.К. Исследование  поверхности  материалов  методом  сканирующей  туннельной микроскопии:  Учеб.  пособие  для  студ.  факультета  нано-  и  биомедицинских технологий. Изд-во Сарат. ун-та, 2007.- 51 с,: ил.

Информация о работе Сканирующая туннельная микроскопия