Расчет надежности стереодекодера СД-А-7
Курсовая работа, 07 Ноября 2012, автор: пользователь скрыл имя
Краткое описание
Научно-технический прогресс влечет за собой появление новых технических средств передачи, переработки, извлечения и хранения информации. Постоянное усложнение этих технических средств, находящееся в прямой зависимости от многообразия и важности функций, выполняемых современными автоматизированными системами, выдвигает ряд проблем научной методологии, технического проектирования, технологии производства, испытаний опытных образцов и эксплуатации. Главной является проблема обеспечения надежности систем.
Содержание
1. Характеристика объекта с точки зрения надежности 6
2. Цель расчета, выбор нормируемых показателей надежности и норм 8
3. Обоснование метода расчета надежности 11
4. Расчет надежности элементной базы 12
5. Расчет надежности с учетом всех видов отказов 3
Список используемых источников 4
Прикрепленные файлы: 1 файл
Расчет на надежность стереодекодера СД А 7.doc
— 230.50 Кб (Скачать документ)На основе вышеизложенного объект с точки зрения надежности можно представить в виде блок-схемы, блоки которой соединены последовательно в смысле надежности (отказ любого из блоков приведет к отказу всего объекта).
4. Расчет надежности элементной базы
В зависимости от полноты учета факторов, влияющих на надежность объекта, могут проводиться прикидочный расчет надежности, расчет с учетом условий эксплуатации (расчет при подборе типов элементов), уточненный расчет.
Расчет производится в предположении, что имеет место экспоненциальный закон надежности, т.е. время работы объекта между отказами имеет экспоненциальное (показательное) распределение. Основаниями для этого служат: 1) большое число элементов и высокая надежность каждого элемента (срок службы каждого элемента значительно превышает период рабочей эксплуатации РЭС); 2) все отказы, обусловленные некачественным изготовлением, проявляются в период настройки и испытания РЭС перед эксплуатацией; 3) отказы, связанные со старением элементов, в период эксплуатации РЭС составляют незначительную долю от общего числа отказов; 4) вероятность возникновения отказов элементов примерно одинакова в любые интервалы времени эксплуатации; 5) отказы элементов независимы.
4.1 Прикидочный расчет производится на этапе проектирования, когда принципиальных схем блоков объекта еще нет. Количество элементов в блоках определяется путем сравнения проектируемого объекта с аналогичными, ранее разработанными объектами. Интенсивность отказов проектируемого нерезервированного объекта определяют путем суммирования значений интенсивностей отказов всех его элементов.
Прикидочный расчет надежности проводится в следующих целях:
- проверить выполнимость требований по надежности, содержащихся в техническом задании;
- сравнить по показателям надежности различные варианты проектируемой системы.
Для расчета надежности необходимо иметь логическую модель безотказной работы системы (структурная схема надежности). Так как проектируемый объект без резерва, то его схема надежности последовательная.
Средние, минимальные и максимальные значения интенсивности отказов каждого типа элементов определяю из приложения 3 [2].
Составляю сводную таблицу данных (табл. 2).
Таблица 2
Порядковый номер и тип элемента |
Число элементов каждого типа nj |
Границы и среднее значение интенсивности отказов *10^6, 1/ч |
Суммарные значения
интенсивности отказов элементо *10^6, 1/ч | |||||
λj min |
λj cp |
λj max |
njλj min |
njλj cp |
njλj max | |||
|
1. Резисторы |
Непроволочные |
30 |
0,010 |
0,020 |
0,040 |
0,300 |
0,600 |
1,200 |
Переменные |
4 |
0,020 |
0,260 |
0,500 |
0,080 |
1,040 |
2,000 | |
2. Конденсаторы |
Керамические |
8 |
0,042 |
0,150 |
1,640 |
0,336 |
1,200 |
13,120 |
Электролитические |
2 |
0,003 |
0,035 |
0,513 |
0,006 |
0,070 |
1,026 | |
3. Диоды |
4 |
0,021 |
0,200 |
0,452 |
0,084 |
0,800 |
1,808 | |
4. Транзисторы |
14 |
0,160 |
0,500 |
1,670 |
2,240 |
7,000 |
23,380 | |
7. Катушки индуктивности |
4 |
0,001 |
0,008 |
0,020 |
0,004 |
0,032 |
0,080 | |
10. Плата (гетинакс) |
1 |
0,100 |
0,100 |
0,100 |
0,100 |
0,100 |
0,100 | |
11. Пайка (печатный монтаж) |
149 |
0,010 |
0,080 |
0,150 |
1,490 |
11,920 |
22,350 | |
По данным таблицы 2 рассчитываю граничные и средние значения интенсивностей отказов, а также другие показатели безотказности электрической схемы по формулам:
где, m – число типов элементов схемы.
1/ч, 1/ч, ;
, ,
;
ч, ч, ч.
Проверка: > (215517>4500).
4.2 Расчет с учетом условий эксплуатации аппаратуры, т.е. с учетом влияния механических воздействий, высотности и климатических факторов производится с помощью поправочных коэффициентов по формуле , где - интенсивность отказов j –го элемента в номинальном режиме (температура окружающей среды 20 ˚С, коэффициент нагрузки равен 1; - поправочные коэффициенты, учитывающие соответственно воздействие влажности и температуры; - коэффициент, учитывающий одновременное воздействие вибрации и ударных нагрузок. Если в объекте имеется - однотипных элементов, имеющих одинаковые и значения поправочных коэффициентов, то для всей электрической схемы интенсивность определяется по формуле
В приложении 3 [2] нахожу
интенсивность отказов
Таблица 3
Номер и наименование элемента |
Обозначение на схеме |
Тип элемента |
Кол-во элементов j-го типа nj, шт |
Интенсивность отказов в номинальном режиме λ0j*106, 1/час |
Поправочные коэффициенты |
Интенсивность отказов элементов j-го типа с учетом условий эксплуатации, njλ0j К1,2,jК3,jК4,j*106, 1/час | ||
К1,2,j |
К3,j |
К4,j | ||||||
|
Резисторы |
R1-R4,R6-R14, R16-R26, R28, R29, R31-R34 |
Металлодиэлектрические |
30 |
0,2 |
1,07 |
1 |
1 |
6,420 |
R5, R15, R27,R30 |
Переменные |
4 |
0,26 |
1,113 | ||||
Конденсаторы |
С2-С5, С7-С10 |
Керамические |
8 |
1,4 |
11.984 | |||
C1, C6 |
Электролитические |
2 |
2,4 |
5.1360 | ||||
Диоды |
VD1-VD4 |
Кремниевые |
4 |
0,7 |
2,996 | |||
Транзисторы |
VT1-VT14 |
Кремниевые высокочастотные мощностью менее 1Вт |
14 |
2,6 |
38,948 | |||
Катушки индуктивности |
L1.1, L1.2, L2.1, L2.2 |
- |
4 |
0,5 |
2,140 | |||
Плата |
- |
- |
1 |
0,1 |
0,107 | |||
Пайка |
- |
Печ. мон. |
149 |
0,15 |
23,916 | |||
По данным таблицы 3 рассчитываю суммарное значение интенсивности отказов для всей электрической схемы 1/ч. На основе значения определяю другие показатели надежности с учетом условий эксплуатации и ч.
Проверка: > (10780>4500).
4.3 Уточненный расчет производится, когда конструкция объекта в основном определена. Здесь, прежде всего, учитывается отклонение электрической нагрузки элементов схемы и окружающей их температуры от номинальных значений. Интенсивность отказов элемента j–го типа уточненная и всей схемы рассчитываются по формулам:
где - поправочный коэффициент, определяемый как функция коэффициента , учитывающего электрическую нагрузку, и температуры для элемента j–го типа.
Поправочные коэффициенты для элементов выбираю в приложении 4 [1,2]. Температуру принимаю равной +40 ˚С (как максимальную температуру для умеренного климата) плюс +10 ˚С (за счет нагрева самих элементов) для расчета надежности объекта при работе в наихудшем для него режиме. Составляю сводную таблицу данных (табл. 4).
По данным таблицы 4 рассчитываю суммарное значение интенсивности отказов для всей электрической схемы
=77,709*10-6 1/ч.
На основе значения определяю уточненные значения показателей надежности
=exp[-77,709*10-6 *t], =12686 ч.
Проверка: > (12686>4500).
Таблица 4
Номер и наименование элемента |
Обозначение на схеме |
Тип элемента |
Кол-во элементов j–го типа nj, шт |
Поправочные коэффициенты |
Интенсивность отказов элементов j–го типа с учетом условий эксплуат. , 1/ч |
Уточненная интенсивность отказов элементов j–го типа
, 1/ч | ||
|
|
|
| ||||||
|
Резисторы |
R1-R4,R6-R14, R16-R26, R28, R29, R31-R34 |
Металлодиэлектрические |
30 |
0,6 |
50 |
0,92 |
5,906 |
5,434 |
R5, R15, R27,R30 |
Переменные |
4 |
0,6 |
0,92 |
1,024 |
0,942 | ||
Конденсаторы |
С2-С5, С7-С10 |
Керамические |
8 |
0,7 |
0,46 |
5,513 |
2,536 | |
C1, C6 |
Электролитические |
2 |
0,7 |
1,73 |
8,885 |
15,372 | ||
Диоды |
VD1-VD4 |
Выпрямительные |
4 |
0,5 |
0,76 |
2,277 |
1,730 | |
Транзисторы |
VT1-VT14 |
Высокочастотные |
14 |
0,5 |
0,84 |
32,716 |
27,482 | |
Кат. Индуктивности |
L1.1, L1.2, L2.1, L2.2 |
- |
4 |
0,5 |
0,3 |
0,624 |
0,193 | |
Плата |
- |
- |
1 |
- |
1 |
0,107 |
0,107 | |
Пайка |
- |
Печ. мон |
149 |
- |
1 |
23,9145 |
23,9145 | |
5. Расчет надежности с учетом всех видов отказов
В заключении анализа надежности объекта рассчитываются окончательные значения нормируемых показателей надежности, которые учитывают все возможные виды отказов – отказы элементов электрической схемы, конструкционные, технологические, эксплуатационные и другие.
Общая интенсивность отказов λоб =λсх* кк* кт* кэ,где кк, кт, кэ – поправочные коэффициенты, учитывающие увеличение интенсивности отказов за счет ошибок конструкции, технологии и эксплуатации соответственно. Анализ показывает, что 60% всех отказов вызвано нарушениями элементов электрической схемы, 30% - ошибками конструкции и 10% - нарушениями технологии изготовления и сборки.
Коэффициенты кк, кт определяются по формулам:
кк=(δсх+δк)/δсх =(60+30)/60=1,5,
кт=(δсх+δк+δт)/(δк+δсх)=(60+
где δсх, δк, δт – доли в процентах трех видов отказов соответственно.
Используя найденные значения поправочных коэффициентов определяю общую интенсивность отказов
λоб = 77,709*1,5*1,1*10-6=128,221*10
Значит mt oб = 1/λоб =7799 ч и КГ об=7799/(4+7799)=0,99949.
Проверка: mt oб > (7799>4500),
КГ об >КГ (0,99956 > 0,99933).
6. Выводы и рекомендации
Проведенный расчет показал,
что на этапе проектирования объект
удовлетворяет требованиям наде
В качестве рекомендации по повышению надежности объекта можно отметить следующее. Значительная часть отказов происходит из-за ошибок и нарушений технологического процесса, допускаемых производственным персоналом в процессе изготовления изделий. Поэтому для уменьшения количества таких ошибок надо минимизировать использование ручного труда в процессе производства. Высокую надежность может иметь только та аппаратура, при производстве которой широко используются автоматизация и механизация производственных процессов.
Кроме того соблюдение заданных условий эксплуатации, своевременное и качественное проведение профилактического осмотра и ремонта также может существенно повысить надежность объекта.
Список используемых источников
- Муромцев Ю.Л., Грошев В.Н., Чернышова Т.И. Надежность радиоэлектронных и микропроцессорных систем. Тамбов, ТИХМ, 2002.
- Теория надежности радиоэлектронных систем в примерах и задачах / Под ред. Г.В. Дружинина. – М.: Энергия, 2001.
- Голинкевич Т.А. Прикладная теория надежности. - М.: Высш. школа, 1999.
5. Кофанов Ю.Н. Теоретические
основы конструирования, технол